发明名称 一种低量程高灵敏度MEMS压力传感器及其制作方法
摘要 本发明公开了一种低量程高灵敏度MEMS压力传感器,包括:背面具有凹腔的单晶硅层(1);形成于该单晶硅层(1)背面凹腔中的多孔硅/硅复合膜结构(6);形成于该单晶硅层(1)正面的多孔硅压敏电阻(7);以及在该多孔硅压敏电阻(7)上淀积的作为金属互联的金属层(8)。本发明同时公开了一种制作低量程高灵敏度MEMS压力传感器的方法。由于多孔硅材料具有优越的压阻性能和机械性能,采用此结构的多孔硅MEMS压力传感器可以在保持线性度的同时提高灵敏度,同时通过灵活的结构设计可以实现在超低压力范围的应用。
申请公布号 CN103644999A 申请公布日期 2014.03.19
申请号 CN201310706910.7 申请日期 2013.12.19
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 赵永梅;季安;张明亮;杨香;宁瑾;王晓东;杨富华
分类号 G01L9/02(2006.01)I;G01L1/20(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 主分类号 G01L9/02(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种低量程高灵敏度MEMS压力传感器,其特征在于,包括:背面具有凹腔的单晶硅层(1);形成于该单晶硅层(1)背面凹腔中的多孔硅/硅复合膜结构(6);形成于该单晶硅层(1)正面的多孔硅压敏电阻(7);以及在该多孔硅压敏电阻(7)上淀积的作为金属互联的金属层(8)。
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号
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