发明名称 |
一种低量程高灵敏度MEMS压力传感器及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种低量程高灵敏度MEMS压力传感器,包括:背面具有凹腔的单晶硅层(1);形成于该单晶硅层(1)背面凹腔中的多孔硅/硅复合膜结构(6);形成于该单晶硅层(1)正面的多孔硅压敏电阻(7);以及在该多孔硅压敏电阻(7)上淀积的作为金属互联的金属层(8)。本发明同时公开了一种制作低量程高灵敏度MEMS压力传感器的方法。由于多孔硅材料具有优越的压阻性能和机械性能,采用此结构的多孔硅MEMS压力传感器可以在保持线性度的同时提高灵敏度,同时通过灵活的结构设计可以实现在超低压力范围的应用。 |
申请公布号 |
CN103644999A |
申请公布日期 |
2014.03.19 |
申请号 |
CN201310706910.7 |
申请日期 |
2013.12.19 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
赵永梅;季安;张明亮;杨香;宁瑾;王晓东;杨富华 |
分类号 |
G01L9/02(2006.01)I;G01L1/20(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01L9/02(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种低量程高灵敏度MEMS压力传感器,其特征在于,包括:背面具有凹腔的单晶硅层(1);形成于该单晶硅层(1)背面凹腔中的多孔硅/硅复合膜结构(6);形成于该单晶硅层(1)正面的多孔硅压敏电阻(7);以及在该多孔硅压敏电阻(7)上淀积的作为金属互联的金属层(8)。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |