发明名称 | 一种宇航元器件的成熟度综合评价方法 | ||
摘要 | 本发明为一种宇航元器件的成熟度综合评价方法。该方法针对目前元器件生产厂设计验证不充分,宇航元器件鉴定技术能力不足的现状,提出一种基于成熟度模型的宇航元器件综合评价方法,对元器件性能指标进行数字等级量化,为确保宇航元器件的选用,提供判断方法。该专利首先确定宇航元器件成熟度的概念,然后对元器件成熟度的等级做出了明确划分,给出各等级划分的主要工作内容,再给出元器件的评价准则、综合评分方法、以及评价实施步骤,最后给出了元器件的成熟度提升程序,为宇航元器件产品性能的持续提升,提供重要的理论基础。 | ||
申请公布号 | CN103646147A | 申请公布日期 | 2014.03.19 |
申请号 | CN201310713062.2 | 申请日期 | 2013.12.23 |
申请人 | 中国空间技术研究院 | 发明人 | 刘辉;王文炎;张洪伟;张磊;王喆;唐民 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人 | 李江 |
主权项 | 一种宇航元器件的成熟度综合评价方法,其特征在于包括:宇航元器件成熟度概念、宇航元器件成熟度等级划分、宇航元器件成熟度评价准则、宇航元器件成熟度评分方法、评估步骤、以及宇航元器件成熟度提升程序。 | ||
地址 | 100080 北京市海淀区友谊路104号 |