发明名称 | CCD对位测试机电测系统同动装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种CCD对位测试机电测系统同动装置,包括一电测系统;一测试机构的Z轴部;电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动,并以讯号线短距离与各轴连接同动。通过此结构方式,不会有一端固定另端受力从动的拉扯问题,完全解决已知结构讯号线遭拉断、脱落、接触不良的问题;同时线材大幅缩减长度,传输速度变快,配线安装、维修均相当容易,使得成本降低。 | ||
申请公布号 | CN203490257U | 申请公布日期 | 2014.03.19 |
申请号 | CN201320544740.2 | 申请日期 | 2013.09.03 |
申请人 | 吴茂祥 | 发明人 | 吴茂祥 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R1/06(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
代理机构 | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人 | 赵郁军 |
主权项 | 一种CCD对位测试机电测系统同动装置,其特征在于,包括:一电测系统;一测试机构的Z轴部;所述电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动,并以讯号线与各轴连接同动。 | ||
地址 | 中国台湾台中市 |