| 发明名称 |
μ-XAFS技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉 |
| 摘要 |
本发明公开了µ-XAFS技术原位实时测量熔融法晶体生长微观结构的方法，本方法基于µ-XAFS技术分别原位实时测量熔融法晶体生长时不同区域（晶体、边界层、熔体）的特征元素的配位状态及其演变规律，从而获得熔融法晶体生长时从熔体到晶体微观结构的变化规律；本发明还提供了µ-XAFS技术原位测量熔融法晶体生长配位结构的微型晶体生长炉，通过该微型晶体生长炉能实现对晶体生长时晶体、边界层和熔体中的特定元素的配位数进行原位、实时观测。 |
| 申请公布号 |
CN103645200A |
申请公布日期 |
2014.03.19 |
| 申请号 |
CN201310582505.9 |
申请日期 |
2013.11.20 |
| 申请人 |
中国科学院合肥物质科学研究院 |
发明人 |
殷绍唐;张德明;张庆礼;孙敦陆;张季;王迪;刘文鹏;孙贵花 |
| 分类号 |
G01N23/20(2006.01)I;C30B28/04(2006.01)I;C30B9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/20(2006.01)I |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
µ‑XAFS技术原位实时测量熔融法晶体生长微观结构的方法，其特征在于：本方法基于µ‑XAFS技术分别原位实时测量熔融法晶体生长时不同区域（晶体、边界层、熔体）的特征元素的配位状态及其演变规律，从而获得熔融法晶体生长时从熔体到晶体微观结构的变化规律。 |
| 地址 |
230088 安徽省合肥市蜀山湖路350号中国科学院合肥物质科学研究院 |
