发明名称 一种通用接口测试系统的测试方法
摘要 本发明提供一种通用接口测试系统的测试方法。通用测试系统由PC端测试脚本、通讯接口母板、通讯接口子板和测试平台构成。测试平台为FPGA或ASIC平台。PC端通过USB接口与通讯接口母板连接,通讯接口母板通过硬线与通讯接口子板连接,通讯接口子板与测试平台连接进行测试通讯。通讯子接口可根据测试需求独立制板。同时本发明还提供一种通用接口测试系统的实现方法。采用本发明所述的测试系统及方法,能够实现多接口测试应用同时测试的需求,采用USB接口满足了吞吐大数据量的需求,自动化的测试方式能有效降低测试人工成本,提高测试效率。
申请公布号 CN102479134B 申请公布日期 2014.03.19
申请号 CN201010558877.4 申请日期 2010.11.25
申请人 上海华虹集成电路有限责任公司 发明人 丁颖
分类号 G06F11/267(2006.01)I 主分类号 G06F11/267(2006.01)I
代理机构 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 代理人 曹立维
主权项 一种通用接口测试系统的测试方法,包含脚本命令发送流程和测试数据反馈流程:其特征在于所述脚本命令发送流程为:(1)PC端将脚本命令通过PC端的USB驱动程序发送至通讯接口母板;(2)通讯接口母板对该脚本命令信号进行A/D转换、协议解析、接口切换;(3)通讯接口子板上根据各端口协议进行转换;(4)测试平台接口分别接收并进行测试;所述测试数据反馈流程为:(1)测试平台接口发送测试反馈数据;(2)数据经通讯接口子板上的端口进行协议转换;(3)数据到达通讯接口母板,进行协议解析、D/A转换;(4)PC端USB端口接收并将测试结果反馈至PC端。
地址 201203 上海市浦东新区碧波路572弄39号