| 摘要 |
Il est proposé un procédé de test de sécurité d'un dispositif électronique vis-à-vis d'une combinaison d'une attaque par canaux auxiliaires et d'une attaque par injection de fautes qui est mise en oeuvre lors d'une exécution d'un procédé de traitement cryptographique comprenant une étape de signature d'un message à partir d'au moins un paramètre secret, ladite étape de signature mettant en oeuvre une recombinaison d'au moins deux valeurs intermédiaires selon le théorème des restes chinois, et une étape de vérification de ladite signature à partir d'au moins un exposant public. Le procédé de test est remarquable en ce qu'il comprend : - une étape de transmission d'une pluralité de messages à signer par ledit dispositif électronique ; - une étape de perturbation de chaque message, comprenant une modification dudit message par une introduction d'une erreur identique pour chaque message, avant l'exécution d'une étape de détermination d'une des valeurs intermédiaires ; - une étape d'analyse de mesures physiques obtenues pendant ladite étape de vérification de ladite signature en fonction dudit message à signer, de ladite erreur identique pour chaque message et d'une supposition d'une valeur d'une partie dudit au moins un paramètre secret. |
