| 发明名称 |
PERFECCIONAMIENTOS EN LOS SISTEMAS DE DETERMINACION DEL TE-NOR DE SILICIO EN MUESTRAS METALICAS. |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
ES348002(A1) |
申请公布日期 |
1969.03.16 |
| 申请号 |
ES19020003480 |
申请日期 |
1967.11.25 |
| 申请人 |
CENTRE DE RECHERCHES DE PONT-A-MOUSSON |
发明人 |
|
| 分类号 |
G01N27/00;G01N33/20;(IPC1-7):G01N/ |
主分类号 |
G01N27/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
