| 发明名称 | 智能装置ICD与虚端子表的一致性校验方法 | ||
| 摘要 | 发明涉及一种智能装置ICD与虚端子表的一致性校验方法，包括以下步骤：1、按照IEC61850标准及Q/GDW396-2009《IEC61850工程继电保护应用模型》规范对ICD文件中虚端子的描述方法，将ICD文件中的虚端子进行解析，形成ICD文件中的访问点列表及虚端子列表；2、将Excel格式的虚端子表中的访问点及虚端子信息导入；3、将从虚端子表中导入的访问点及虚端子信息与ICD文件中的访问点列表及虚端子列表对比，进行虚端子一致性校验；4、得到校验报告，所述检验报告中描述虚端子表与ICD文件中访问点和虚端子的不一致情况。该方法检测方便，提高了工作效率，节约了人力成本。 | ||
| 申请公布号 | CN103631667A | 申请公布日期 | 2014.03.12 |
| 申请号 | CN201310445931.8 | 申请日期 | 2013.09.27 |
| 申请人 | 国家电网公司;国网福建省电力有限公司;国网福建省电力有限公司电力科学研究院 | 发明人 | 唐志军;王云茂;华建卫;林国栋;邓超平;朱维钧 |
| 分类号 | G06F11/00(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人 | 蔡学俊 |
| 主权项 | 一种智能装置ICD与虚端子表的一致性校验方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）按照IEC61850标准及Q/GDW 396‑2009《IEC 61850工程继电保护应用模型》规范对ICD文件中虚端子的描述方法，将ICD文件中的虚端子进行解析，形成ICD文件中的访问点列表及虚端子列表；（2）将Excel格式的虚端子表中的访问点及虚端子信息导入；（3）将从虚端子表中导入的访问点及虚端子信息与ICD文件中的访问点列表及虚端子列表对比，进行虚端子一致性校验；（4）得到校验报告，所述检验报告中描述虚端子表与ICD文件中访问点和虚端子的不一致情况。 | ||
| 地址 | 100031 北京市西城区西长安街86号 | ||