发明名称 高压金属氧化物半导体晶体管元件
摘要 发明公开一种高压金属氧化物半导体晶体管元件,其包含有一基底、至少一设置于该基底上的绝缘结构、一设置于该基底上的栅极、以及一源极区域与一漏极区域,设置于该栅极两侧的该基底内。该绝缘结构内包含有一凹槽,而该栅极则包含一设置于该基底表面上的第一栅极部分,以及一设置于该凹槽内的第二栅极部分,且该第二栅极部分由该第一栅极部分向下延伸。
申请公布号 CN103633139A 申请公布日期 2014.03.12
申请号 CN201210303455.1 申请日期 2012.08.23
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 李秋德;林克峰;张志谦;陈威霖;王智充
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 陈小雯
主权项 一种高压金属氧化物半导体(high voltage metal‑oxide‑semiconductor,HV MOS)晶体管元件,包含有:基底;至少一绝缘结构,设置于该基底上,且该绝缘结构内包含有一凹槽;栅极,设置于该基底上,该栅极还包含:第一栅极部分,设置于该基底表面上;以及第二栅极部分,该第二栅极部分由该第一栅极部分向下延伸,且设置于该凹槽内;以及源极区域与漏极区域,设置于该栅极两侧的该基底内。
地址 中国台湾新竹科学工业园区