发明名称 |
高压金属氧化物半导体晶体管元件 |
摘要 |
发明公开一种高压金属氧化物半导体晶体管元件,其包含有一基底、至少一设置于该基底上的绝缘结构、一设置于该基底上的栅极、以及一源极区域与一漏极区域,设置于该栅极两侧的该基底内。该绝缘结构内包含有一凹槽,而该栅极则包含一设置于该基底表面上的第一栅极部分,以及一设置于该凹槽内的第二栅极部分,且该第二栅极部分由该第一栅极部分向下延伸。 |
申请公布号 |
CN103633139A |
申请公布日期 |
2014.03.12 |
申请号 |
CN201210303455.1 |
申请日期 |
2012.08.23 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
李秋德;林克峰;张志谦;陈威霖;王智充 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
陈小雯 |
主权项 |
一种高压金属氧化物半导体(high voltage metal‑oxide‑semiconductor,HV MOS)晶体管元件,包含有:基底;至少一绝缘结构,设置于该基底上,且该绝缘结构内包含有一凹槽;栅极,设置于该基底上,该栅极还包含:第一栅极部分,设置于该基底表面上;以及第二栅极部分,该第二栅极部分由该第一栅极部分向下延伸,且设置于该凹槽内;以及源极区域与漏极区域,设置于该栅极两侧的该基底内。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |