发明名称 半导体电容装置
摘要 发明涉及一种半导体电容装置,至少包括依次叠置的第一金属层、第一介电层、第二金属层;第一金属层包括沿第一分布方向分布且彼此平行的复数条第一金属条,所述第二金属层包括沿第二分布方向分布且彼此平行的复数条第二金属条;沿着第一分布方向分布的第奇数条第一金属条与沿着第二分布方向分布的第奇数条第二金属条通过插塞导通、沿着第一分布方向分布的第偶数条第一金属条与沿着第二分布方向分布的第偶数条第二金属条通过插塞导通。该电容装置的电容量由三个部分组成:每一层金属层中金属条之间的耦合电容,插塞之间形成的耦合电容,相邻金属层的金属条错位形成的耦合电容。本发明可以更进一步的提高电容装置的电容量。
申请公布号 CN102110684B 申请公布日期 2014.03.12
申请号 CN200910200705.7 申请日期 2009.12.24
申请人 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 朱辉
分类号 H01L27/02(2006.01)I;H01L29/92(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I 主分类号 H01L27/02(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种半导体电容装置,至少包括依次叠置的第一金属层、第一介电层、第二金属层;所述第一金属层包括沿第一分布方向分布且彼此平行的复数条第一金属条,第一分布方向与第一金属条的延伸方向垂直;所述第二金属层包括沿第二分布方向分布且彼此平行的复数条第二金属条,第二分布方向与第二金属条的延伸方向垂直,且第二分布方向与第一分布方向空间相离,其中第一条第二金属条以及最末偶数条第二金属条连接有电源引线,在所述第一条第二金属条和最末偶数条第二金属条之间还包括多条未连接有电源引线的第二条金属条;沿着第一分布方向分布的每个第奇数条第一金属条分别与沿着第二分布方向分布的所有或部分第奇数条第二金属条通过插塞导通、沿着第一分布方向分布的每个第偶数条第一金属条分别与沿着第二分布方向分布的所有或部分第偶数条第二金属条通过插塞导通,或者沿着第一分布方向分布的每个第奇数条第一金属条分别与沿着第二分布方向分布的所有或部分第偶数条第二金属条通过插塞导通、沿着第一分布方向分布的每个第偶数条第一金属条分别与沿着第二分布方向分布的所有或部分第奇数条第二金属条通过插塞导通。
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