发明名称 阶梯栅氧化层有源漂移区结构的N型LDMOS
摘要 实用新型公开了一种阶梯栅氧化层有源漂移区结构的N型LDMOS。以淡掺杂的硅基材料为最底层基础;淡掺杂的硅基材料的上层为N阱;N阱的上层包括多晶构成LDMOS的栅极,N阱、漂移区掺杂和浓N型构成LDMOS的漏极,P型的体区构成LDMOS的沟道区,P型体区内部的浓N型构成LDMOS的源极;P型体区内部的浓P型与P型体区掺杂,构成LDMOS的衬底端;在多晶与P型体区之间设置有栅极氧化层,在多晶与LDMOS的漏极之间设置有阶梯氧化层,阶梯氧化层的厚度厚于栅极氧化层,且阶梯氧化层与多晶构成的LDMOS的栅极自对准。本实用新型明显改善了器件大电流、大电场情况下的安全工作区,导通电阻基本上没有增加,同时成本低,工艺易控制。
申请公布号 CN203481243U 申请公布日期 2014.03.12
申请号 CN201320590140.X 申请日期 2013.09.24
申请人 无锡市晶源微电子有限公司 发明人 聂卫东;朱光荣;易法友
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 许方
主权项 一种阶梯栅氧化层有源漂移区结构的N型LDMOS,包括淡掺杂的硅基材料、N阱、漂移区掺杂、阶梯氧化层、多晶、栅极氧化层、P型体区内部的浓N型、P型体区、P型体区内部的浓P型、浓N型、场氧化层;所述淡掺杂的硅基材料为最底层基础;淡掺杂的硅基材料的上层为N阱;N阱的上层包括多晶构成LDMOS的栅极,N阱、漂移区掺杂和浓N型构成LDMOS的漏极,P型的体区构成LDMOS的沟道区,P型体区内部的浓N型构成LDMOS的源极;P型体区内部的浓P型与P型体区掺杂,构成LDMOS的衬底端;其特征在于:所述栅极氧化层设置在多晶与P型体区之间,所述阶梯氧化层设置在多晶与LDMOS的漏极之间,阶梯氧化层的厚度厚于栅极氧化层,且阶梯氧化层与所述多晶构成的LDMOS的栅极自对准。
地址 214028 江苏省无锡市无锡国家高新技术产业开发区106-C地块A幢209室