发明名称 检测小延迟缺陷的方法
摘要 发明公开了用于有效检测小延迟缺陷的系统和方法。该方法首先加载集成电路的布局信息。然后,集成电路的网络和路径基于其物理信息分成两个组。该物理信息包括各路径和各网路的长度以及各路径和各网络的通孔的数量。将时间感知自动测试模式生成器配置成第一组生成测试模式,第一组具有易受到小延迟缺陷影响的路径和网络。将传统的跳变延迟缺陷测试模式生成器配置成生成用于第二组的测试模式。
申请公布号 CN102467602B 申请公布日期 2014.03.12
申请号 CN201110215600.6 申请日期 2011.07.28
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 桑迪·库马·戈埃尔;沙鲁巴·古普塔;张简维平;刘钦洲
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 北京德恒律师事务所 11306 代理人 陆鑫;高雪琴
主权项 一种用于检测小延迟缺陷的方法,包括:加载集成电路布局;测量所述集成电路布局的各路径或各网络的长度;计算与各路径或各网络电连接的通孔的数量;基于所述长度和所述通孔的数量计算各路径或各网络的指数,其中,通过各路径或各网络的长度规范化容易受到小延迟缺陷的第一影响并且通过各路径或各网络的通孔的数量规范化容易受到小延迟缺陷的第二影响,第一影响和第二影响的总和是所述指数;基于所述指数将各路径或各网络排序成列表;并且形成路径或网络的易受小延迟缺陷影响的第一组和不易受小延迟缺陷影响的第二组。
地址 中国台湾新竹