发明名称 一种抱料测试机构
摘要 实用新型的一种抱料测试机构,包括金手指测试机构,及设置在金手指测试机构前面的IC进料轨道,及设置在IC进料轨道上方的挡料机构,及设置在挡料机构上方的挡料气缸,及设置在挡料气缸左侧的夹爪气缸。本实用新型的一种抱料测试机构,由于设置有夹爪气缸和夹爪支架,可实现了对从进料轨道进入到金手指测试机构中的IC料进行夹紧抱料;又由于设置有挡料气缸和挡料机构,挡料气缸运动带动挡料机构可在水平方向上横向移动,可对进入到金手指测试机构中的IC料的位置进行调整,使其与金手指的位置相对应,确保接触良好,方便测试IC料的导电性能,确保了对IC料测试结果的准确性,确保得到准确的产品合格率,提高了企业的产品测试质量。
申请公布号 CN203479932U 申请公布日期 2014.03.12
申请号 CN201320525955.X 申请日期 2013.08.27
申请人 东莞市华越自动化设备有限公司 发明人 谢国清
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种抱料测试机构,其特征在于:包括金手指测试机构,及设置在金手指测试机构前面的IC进料轨道,及设置在IC进料轨道上方的挡料机构,及设置在挡料机构上方的挡料气缸,及设置在挡料气缸左侧的夹爪气缸。
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