发明名称 |
高分辨力双轴自准直仪系统 |
摘要 |
发明涉及几何计量测试技术领域,具体公开了一种高分辨力双轴自准直仪。该系统中反光镜对物镜后组的水平光线反射,射入分光棱镜B及分光棱镜A,并在分光棱镜A的垂直光线通路上设有水平准直分划板、水平聚光镜及水平LED光源,分光棱镜A反射的水平光线通路上设有显微物镜B和垂直安装的第二线阵CCD;分光棱镜B反射的水平光线通路上设有分光棱镜C、显微物镜A以及水平安装的第一线阵CCD,且在分光棱镜C垂直水平面的反射光线通路上依次安装有垂直准直分划板、垂直聚光镜以及垂直LED光源。该系统采用物镜前组和物镜后组,减小准直光路长度,使准直光路的长度小于物镜焦距;同时,采用折叠光路的反射镜,使光学系统的长度尺寸不增加,仅增加宽度。 |
申请公布号 |
CN103630090A |
申请公布日期 |
2014.03.12 |
申请号 |
CN201210311121.9 |
申请日期 |
2012.08.28 |
申请人 |
北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
发明人 |
王震;张俊杰;张忠武;李永刚;孙方金 |
分类号 |
G01B11/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/26(2006.01)I |
代理机构 |
核工业专利中心 11007 |
代理人 |
高尚梅 |
主权项 |
一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:该系统包括仪器外壳(14)以及固定在仪器外壳(14)上的物镜组套筒(2),其中,物镜组套筒(2)由前后依次设置的物镜前组(1)和物镜后组(4)组成,仪器外壳(14)内安装有水平LED光源(8)、垂直LED光源(19)、水平准直分划板(10)、垂直准直分划板(17)、分光棱镜A(11)、分光棱镜B(12)、分光棱镜C(16)以及反光镜(13),其中,反光镜(13)对通过物镜后组(4)的水平光线进行反射,形成垂直光线,射入两个依次布置的分光棱镜B(12)以及分光棱镜A(11),并在分光棱镜A(11)的垂直光线通路上依次设有水平准直分划板(10)、水平聚光镜(9)以及水平LED光源(8),分光棱镜A(11)反射的水平光线通路上依次安装有显微物镜B(7)和垂直安装的第二线阵CCD(5);分光棱镜B(12)反射的水平光线通路上依次安装有分光棱镜C(16)、显微物镜A(6)以及水平安装的第一线阵CCD(3),且在分光棱镜C(16)垂直水平面的反射光线通路上依次安装有垂直准直分划板(17)、垂直聚光镜(18)以及垂直LED光源(19)。 |
地址 |
100076 北京市丰台区大红门路1号 |