发明名称 高分辨力双轴自准直仪系统
摘要 发明涉及几何计量测试技术领域,具体公开了一种高分辨力双轴自准直仪。该系统中反光镜对物镜后组的水平光线反射,射入分光棱镜B及分光棱镜A,并在分光棱镜A的垂直光线通路上设有水平准直分划板、水平聚光镜及水平LED光源,分光棱镜A反射的水平光线通路上设有显微物镜B和垂直安装的第二线阵CCD;分光棱镜B反射的水平光线通路上设有分光棱镜C、显微物镜A以及水平安装的第一线阵CCD,且在分光棱镜C垂直水平面的反射光线通路上依次安装有垂直准直分划板、垂直聚光镜以及垂直LED光源。该系统采用物镜前组和物镜后组,减小准直光路长度,使准直光路的长度小于物镜焦距;同时,采用折叠光路的反射镜,使光学系统的长度尺寸不增加,仅增加宽度。
申请公布号 CN103630090A 申请公布日期 2014.03.12
申请号 CN201210311121.9 申请日期 2012.08.28
申请人 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 发明人 王震;张俊杰;张忠武;李永刚;孙方金
分类号 G01B11/26(2006.01)I 主分类号 G01B11/26(2006.01)I
代理机构 核工业专利中心 11007 代理人 高尚梅
主权项 一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:该系统包括仪器外壳(14)以及固定在仪器外壳(14)上的物镜组套筒(2),其中,物镜组套筒(2)由前后依次设置的物镜前组(1)和物镜后组(4)组成,仪器外壳(14)内安装有水平LED光源(8)、垂直LED光源(19)、水平准直分划板(10)、垂直准直分划板(17)、分光棱镜A(11)、分光棱镜B(12)、分光棱镜C(16)以及反光镜(13),其中,反光镜(13)对通过物镜后组(4)的水平光线进行反射,形成垂直光线,射入两个依次布置的分光棱镜B(12)以及分光棱镜A(11),并在分光棱镜A(11)的垂直光线通路上依次设有水平准直分划板(10)、水平聚光镜(9)以及水平LED光源(8),分光棱镜A(11)反射的水平光线通路上依次安装有显微物镜B(7)和垂直安装的第二线阵CCD(5);分光棱镜B(12)反射的水平光线通路上依次安装有分光棱镜C(16)、显微物镜A(6)以及水平安装的第一线阵CCD(3),且在分光棱镜C(16)垂直水平面的反射光线通路上依次安装有垂直准直分划板(17)、垂直聚光镜(18)以及垂直LED光源(19)。
地址 100076 北京市丰台区大红门路1号
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