一种测试半导体存储器装置的方法

摘要

发明公开了一种测试半导体存储器装置的方法，包括从半导体存储器装置中，同时通过至少二个半导体存储器装置的数据输入/输出连接件，例如是接脚或衬垫，以读取之前的写入测试数据。由此二数据输入/输出连接件所得的多个信号被结合以产生一合成输出信号。此合成输出信号是由一测试器的一单一输入/输出通道所接收。此测试器将此合成输出信号和一预定电压电平作比较，并且基于此合成输出信号和预定电压电平的比较判定此半导体存储器装置是否恰当地操作。

主权项

一种测试一半导体存储器装置的方法，该半导体存储器装置包括多个数据输入／输出(I／O)连接件，该方法包括：同时通过至少二个该数据输入／输出连接件，从该半导体存储器装置中读取一先前写入数据，其中来自该至少二个数据输入／输出连接件的信号被结合以产生一合成输出信号；比较该合成输出信号与一预定电压电平；以及基于该合成输出信号和该预定电压电平的比较结果判定该半导体存储器装置是否恰当地操作。