发明名称 | 日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法 | ||
摘要 | 日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法,涉及滤光片参数测试领域,解决现有带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题,本发明包括:一、提供衰减系数为k的衰减片;二、探测光源通过日盲紫外滤光片的输出电信号;三、根据通过所述日盲紫外滤光片的所述输出电信号的量级选择衰减片片数N并将其叠加使用,探测光源通过衰减片的输出电信号;四、计算滤光片带外截止深度。该测试方法简单,测试动态范围大且精度高,可广泛运用于滤光片的截止深度测试。 | ||
申请公布号 | CN103616163A | 申请公布日期 | 2014.03.05 |
申请号 | CN201310606317.5 | 申请日期 | 2013.11.25 |
申请人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明人 | 闫丰;崔穆涵;章明朝;陈雪;周跃;隋永新 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人 | 陶尊新 |
主权项 | 日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:步骤一、选择衰减片系数为k的衰减片;步骤二、光源通过滤光片后的光信号由探测器接收,所述探测器将接收的光信号转换为电信号If,并根据电信号If选择衰减片的片数N,步骤三、光源通过衰减片后的光信号由探测器接收并将光信号转换为电信号Ia;步骤四、根据步骤一、步骤二和步骤三分别获得的衰减片系数k、衰减片的片数N、电信号If以及电信号Ia,计算滤光片带外截止深度: <mrow> <msub> <mi>τ</mi> <mi>f</mi> </msub> <mo>=</mo> <mfrac> <msub> <mi>I</mi> <mi>f</mi> </msub> <msub> <mi>I</mi> <mi>a</mi> </msub> </mfrac> <mo>·</mo> <msup> <mi>k</mi> <mi>N</mi> </msup> <mo>.</mo> </mrow> | ||
地址 | 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号 |