| 发明名称 | 用于使用高速输入/输出接口进行测试的集成电路 | ||
| 摘要 | 描述了被配置成用于进行测试的集成电路。该集成电路包括高速输入/输出接口。该集成电路还包括耦合到高速输入/输出接口的测试控制器。该集成电路还包括耦合到测试控制器的测试电路系统。测试控制器基于来自高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制测试电路系统。 | ||
| 申请公布号 | CN103620431A | 申请公布日期 | 2014.03.05 |
| 申请号 | CN201280029780.1 | 申请日期 | 2012.06.14 |
| 申请人 | 高通股份有限公司 | 发明人 | B·阿斯兰;M·莱斯尼;G·A·威利;G·希普意 |
| 分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 陈炜 |
| 主权项 | 一种被配置成用于进行测试的集成电路，包括：高速输入/输出接口；耦合到所述高速输入/输出接口的测试控制器；以及耦合到所述测试控制器的测试电路系统，其中所述测试控制器基于来自所述高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制所述测试电路系统。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||