发明名称 | 于裸露硅表面而非氧化物表面上的聚合物薄膜的选择性沉积 | ||
摘要 | 一种在硅基板上选择性沉积的方法,硅基板上形成有裸露硅区与氧化物区。该方法包括将基板置于处理腔室内的晶片支撑件上、引导含碳气体进入反应器、施加偏压至基板、由含碳气体产生等离子体、通过等离子体掺杂工艺将碳离子注入基板上的氧化物区中,及沉积含碳膜于裸露硅区上。 | ||
申请公布号 | CN103620740A | 申请公布日期 | 2014.03.05 |
申请号 | CN201280025601.7 | 申请日期 | 2012.05.11 |
申请人 | 应用材料公司 | 发明人 | 大平·姚 |
分类号 | H01L21/205(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/205(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 徐金国;赵静 |
主权项 | 一种沉积方法,包括以下步骤:由含碳气体产生的含碳离子选择性地沉积含碳层于基板的硅区上,其中所述基板包括至少一个硅区和至少一个氧化物区;及选择性地将所述含碳离子注入所述基板的所述氧化物区。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |