发明名称 于裸露硅表面而非氧化物表面上的聚合物薄膜的选择性沉积
摘要 一种在硅基板上选择性沉积的方法,硅基板上形成有裸露硅区与氧化物区。该方法包括将基板置于处理腔室内的晶片支撑件上、引导含碳气体进入反应器、施加偏压至基板、由含碳气体产生等离子体、通过等离子体掺杂工艺将碳离子注入基板上的氧化物区中,及沉积含碳膜于裸露硅区上。
申请公布号 CN103620740A 申请公布日期 2014.03.05
申请号 CN201280025601.7 申请日期 2012.05.11
申请人 应用材料公司 发明人 大平·姚
分类号 H01L21/205(2006.01)I 主分类号 H01L21/205(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 徐金国;赵静
主权项 一种沉积方法,包括以下步骤:由含碳气体产生的含碳离子选择性地沉积含碳层于基板的硅区上,其中所述基板包括至少一个硅区和至少一个氧化物区;及选择性地将所述含碳离子注入所述基板的所述氧化物区。
地址 美国加利福尼亚州