发明名称 半导体装置之制造方法及电浆化学气相沉积处理方法
摘要
申请公布号 TWI428980 申请公布日期 2014.03.01
申请号 TW097130369 申请日期 2008.08.08
申请人 东京威力科创股份有限公司 日本;国立大学法人东北大学 日本 发明人 上田博一;野泽俊久;松冈孝明;寺本章伸;大见忠弘
分类号 H01L21/3065;H01L21/31 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本