| 摘要 |
<p>Predmet izuma je vezje in metoda merjenja majhnih kapacitivnosti (tudi s paralelno vezanim uporom) pri nizki frekvenci, praktična izvedba meritve s standardno DAQ kartico in uporaba metode za meritev VI karakteristike skupaj z grafičnim prikazom dinamične upornosti predvsem zaščitnih diod v vezju. Metoda temelji na meritvi spremembe zamika faze zaradi merjene kapacitivnosti, ki z merilnim uporom tvori RC člen, pri čemer se upor veže med generator in merilnik, na katerega je vezana merjena kapacitivnost.</p> |
