| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein spektroskopisches Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung der elektrischen Eigenschaften von Testobjekten (TO) mittels Messung des frequenzabhängigen Wechselstromwiderstandes der zu charakterisierenden Materialien, wie Festkörper, Gewebe, Flüssigkeiten, Dispersionen, Schichten (auch Ionen-Schichten) oder Gase. Die Ersatzimpedanzen bzw. Ersatzwechselstromwiderstände der zu charakterisierenden Testobjekte bestehen aus bekannten, beliebig bzw. geeignet verschalteten, Grundelementen, wie Widerständen, Induktivitäten und Kapazitäten. Das Verfahren zur Impedanzmessung bzw. Impedanzspektrosokopie ist ein digitales modellgestütztes Messverfahren zur Charakterisierung der elektrischen Eigenschaften von Testobjekten, welches erfindungsgemäss eine wesentlich einfachere Hardware als die derzeit erforderliche ermöglicht sowie wesentlich kürzere Analysezeiten bei gleicher bzw. sogar höherer Genauigkeit als die bislang bekannten Verfahren. Die Erfindung betrifft auch Anwendungen des Verfahrens bzw. Verwendungen der Vorrichtung, insbesondere auf den Gebieten der Medizin und Biologie. Beim erfindungsgemässen Verfahren werden am Testobjekt (TO) über Elektroden Ströme angelegt. Der Spannungsabfall (u(t)) über dem Testobjekt (TO) und der das Testobjekt durchfliessende Strom (i(t)) werden vom Messgerät (3) bzw. den Messgeräten (2a, 2b) gemessen. |
