摘要 |
Adapter (1) für eine automatische Testvorrichtung zum Testen von integrierten Schaltkreisen, wobei der Adapter (1) umfaßt: – eine Leiterplatte (7) mit zumindest einem Leiterplattenkontakt (9), – eine komplementäre Adapteraufnahmevorrichtung (11), welche durch eine Adapteraufnahmevorrichtung der automatischen Testvorrichtung aufnehmbar ist, – eine Testkopfaufnahmevorrichtung (3), mittels welcher ein Testkopf (5) zumindest bereichsweise entlang einer Aufnahmerichtung (A) aufnehmbar ist, wobei die Testkopfaufnahmevorrichtung (3) weiter umfaßt: – eine Befestigungsvorrichtung (21), mit welcher der Testkopf (5) lösbar an dem Adapter (1) befestigbar ist, – zumindest eine Kontaktvorrichtung (23) mit zumindest einem Kontaktelement (25), welches mit einem zugeordneten Leiterplattenkontakt (9) elektrisch verbunden ist und welches mit einem zugeordneten Kontakt des Testkopfes (5) elektrisch kontaktierbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Befestigungsvorrichtung (21) weiter umfaßt: – zumindest zwei Verriegelungselemente (27), welche entlang einer Verriegelungsrichtung (V) linear verschiebbar an gegenüberliegenden Seiten der Testkopfaufnahmevorrichtung (3) gelagert sind, – zumindest ein Betätigungselement (39), welches drehbar gelagert ist, und – zumindest eine Schubstange (41), welche mit einem ersten Endbereich (41A) gelenkig mit einem zugeordneten Betätigungselement (39) verbunden ist und mit einem zweiten Endbereich (41B) gelenkig mit einem zugeordneten Verriegelungselement (27) verbunden ist. |