发明名称 Adapter für eine automatische Testvorrichtung zum Testen von integrierten Schaltkreisen, Testvorrichtung und Verwendung
摘要 Adapter (1) für eine automatische Testvorrichtung zum Testen von integrierten Schaltkreisen, wobei der Adapter (1) umfaßt: – eine Leiterplatte (7) mit zumindest einem Leiterplattenkontakt (9), – eine komplementäre Adapteraufnahmevorrichtung (11), welche durch eine Adapteraufnahmevorrichtung der automatischen Testvorrichtung aufnehmbar ist, – eine Testkopfaufnahmevorrichtung (3), mittels welcher ein Testkopf (5) zumindest bereichsweise entlang einer Aufnahmerichtung (A) aufnehmbar ist, wobei die Testkopfaufnahmevorrichtung (3) weiter umfaßt: – eine Befestigungsvorrichtung (21), mit welcher der Testkopf (5) lösbar an dem Adapter (1) befestigbar ist, – zumindest eine Kontaktvorrichtung (23) mit zumindest einem Kontaktelement (25), welches mit einem zugeordneten Leiterplattenkontakt (9) elektrisch verbunden ist und welches mit einem zugeordneten Kontakt des Testkopfes (5) elektrisch kontaktierbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Befestigungsvorrichtung (21) weiter umfaßt: – zumindest zwei Verriegelungselemente (27), welche entlang einer Verriegelungsrichtung (V) linear verschiebbar an gegenüberliegenden Seiten der Testkopfaufnahmevorrichtung (3) gelagert sind, – zumindest ein Betätigungselement (39), welches drehbar gelagert ist, und – zumindest eine Schubstange (41), welche mit einem ersten Endbereich (41A) gelenkig mit einem zugeordneten Betätigungselement (39) verbunden ist und mit einem zweiten Endbereich (41B) gelenkig mit einem zugeordneten Verriegelungselement (27) verbunden ist.
申请公布号 DE102012010220(B4) 申请公布日期 2014.02.27
申请号 DE20121010220 申请日期 2012.05.23
申请人 YAMAICHI ELECTRONICS DEUTSCHLAND GMBH 发明人 SERNA, YOANN
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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