发明名称 Testprobenvorrichtung und Testverfahren für ein optisches, im Sub-Wellenlängenbereich auflösendes Mikroskop
摘要 Beschrieben wird eine Testprobenvorrichtung für ein optisches Mikroskop (17), das eine Probe in verschiedenen Leuchtzuständen mit einer Ortsauflösung im Sub-Wellenlängenbereich des sichtbaren Spektralbereiches abbildet, wobei die Testprobenvorrichtung umfaßt: einen Probenkörper (10), der zum Mikroskopieren mit dem Mikroskop (17) ausgebildet ist und eine Oberfläche aufweist, auf der Nanostrukturen (28) angeordnet sind, wobei jede Nanostruktur (28) längs der Oberfläche gesehen eine Ausdehnung im Sub-Wellenlängenbereich hat, wobei die Nanostrukturen (28) voneinander um ein Maß beabstandet sind, das oberhalb der Wellenlänge des sichtbaren Spektralbereiches liegt, und wobei die Nanostrukturen kollektiv zwischen einem Hellzustand, in dem sie leuchten, und einem Dunkelzustand, in dem sie nicht leuchten, umschaltbar sind (28), und einen Antrieb (29), der zur Verschiebung des Probenkörpers (10) im Sub-Wellenlängenbereich ausgebildet ist, wodurch die verschiedenen Leuchtzustände durch verschiedene Verschiebezustände des Probenkörpers (10) realisierbar sind.
申请公布号 DE102012214933(A1) 申请公布日期 2014.02.27
申请号 DE201210214933 申请日期 2012.08.22
申请人 CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH 发明人 KALKBRENNER, THOMAS;TOTZECK, MICHAEL
分类号 G01M11/02;G02B21/34 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人
主权项
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