CHARACTERIZATION OF AN OPTOELECTRONIC MEASURING UNIT FOR TEXTILE MATERIAL TO BE INSPECTED

摘要

Das Verfahren dient zur Charakterisierung einer optoelektronischen Messeinheit (1) für ein textiles Prüfgut, welche einen optischen Pfad für bei Messungen verwendetes Messlicht (17) aufweist. Ein im Wesentlichen ebenes Testmuster (2), welches weder ein Abbild noch eine Nachahmung des Prüfgutes ist, wird in den optischen Pfad eingebracht. Das Testmuster (2) wird mit der optoelektronischen Messeinheit (1) ausgemessen. So kann die optoelektronische Messeinheit (1) einfacher und vollständiger als bisher charakterisiert und/oder justiert werden.