| 摘要 |
Устройство для испытания межсхемных соединений электронной системы, характеризующееся тем, что содержит многослойную тест-плату 1, USB осциллограф 2, компьютер 3, преобразователь 4 интерфейса и USB генератор 5, многослойная тест-плата 1 имеет вход (Вх), первый и второй выходы (Вых1, Вых2) и вход-выход (ВВ), при этом выход USB генератора 5 подключен ко входу многослойной тест-платы 1, первый и второй выходы которой подключены к каналам А и В USB осциллографа 2, USB вход-выход которого подключен к первому USB входу-выходу компьютера 3, вход-выход многослойной тест-платы 1 подключен к первому входу-выходу преобразователя 4 интерфейса, второй вход-выход которого подключен ко второму USB входу-выходу компьютера 3, третий USB вход-выход компьютера 3 связан с одноименным входом-выходом USB генератора 5, причем на многослойной тест-плате 1 установлены взаимосвязанные между собой первый и второй буферные усилители 6-1, 6-2, первый и второй шинные формирователи 7-1, 7-2, первый и второй аналоговые мультиплексоры 8-1, 8-2, микроконтроллер 9, формирователь 10 импульсов, передатчик 11 LVDS сигналов, приемник 12 LVDS сигналов, первичные сигнальные тест-линии 13-1...13-n, вторичные сигнальные тест-линии 14-1...14-m связи, а также тест-линии 15 LVDS связи, при этом вход тест-платы 1 через буферные усилители 6-1, 6-2 подключен ко входам первого и второго шинных формирователей 7-1,7-2, выходы первого и второго мультиплексоров 8-1,8-2 подключены к первому и второму выходам тест-платы 1, выходы первого шинного формирователя 7-1 подключены к началу первичных сигнальных тест-линий 13-1...13-n и входам первого мультиплексора 8-1, концы первичных сигнальных тест-линий 13-1...13-n подключены к соответствующим входам |
