发明名称 | 一种相位延迟测量装置及方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种相位延迟测量装置及方法,该装置包括:分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜,所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动,且单色偏振光经分束计分光后,其中一束光束一照射到第一探测器,另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上,并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。本发明提供的相位延迟测量装置及方法,其测量的准确度可以独立与材料自身特性,且能够极大提高测量的精度。 | ||
申请公布号 | CN103604776A | 申请公布日期 | 2014.02.26 |
申请号 | CN201310636822.4 | 申请日期 | 2013.11.29 |
申请人 | 中国计量科学研究院 | 发明人 | 冯国进 |
分类号 | G01N21/41(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/41(2006.01)I |
代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 李相雨 |
主权项 | 一种相位延迟测量装置,其特征在于,包括单色偏振光源、分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜,所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动,且单色偏振光经分束计分光后,其中一束光束一照射到第一探测器,另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上,并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。 | ||
地址 | 100013 北京市北三环东路18号 |