发明名称 | 用于抛光多晶硅的化学机械抛光液 | ||
摘要 | 本发明公开了一种用于抛光多晶硅的化学机械抛光液,其含有研磨颗粒和水,其特征在于:其还含有有机酸和/或其盐类,该有机酸分子中不仅含有一个膦酸基,同时还含有另一个膦酸基或羧基与之形成螯合结构,它们之间通过一个碳原子相连。本发明的化学机械抛光液可显著提高多晶硅去除速率。 | ||
申请公布号 | CN101550317B | 申请公布日期 | 2014.02.26 |
申请号 | CN200810035593.X | 申请日期 | 2008.04.03 |
申请人 | 安集微电子(上海)有限公司 | 发明人 | 王晨;杨春晓 |
分类号 | C09G1/02(2006.01)I;C09G1/04(2006.01)I;H01L21/304(2006.01)I | 主分类号 | C09G1/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人 | 李佳铭 |
主权项 | 一种化学机械抛光液在提高多晶硅抛光速率中的应用,其含有研磨颗粒和水,其特征在于:其还含有有机酸和/或其盐类,该有机酸分子中不仅含有一个膦酸基,同时还含有另一个膦酸基或羧基与之形成螯合结构,它们之间通过一个碳原子相连,其中,所述的有机酸选自2‑膦酸丁烷‑1,2,4三羧酸、2‑膦酸丁酸、2‑膦酸乙酸、2‑膦酸丙酸、2‑羟基膦酰基乙酸、1‑羟基‑2‑吡啶‑1,1‑二膦酸乙烷、二膦酸二氯甲烷、羟基亚甲基二膦酸、亚甲基二膦酸、羟基乙叉二膦酸、3‑氨基‑1‑羟基丙烷‑1,1‑二膦酸和4‑氨基‑1‑羟基丁烷‑1,1‑二膦酸中的一种或多种,其中所述的研磨颗粒的含量为质量百分比0.1~30%。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号5号楼613-618室 |