发明名称 用于制造多个光电子半导体芯片的方法
摘要 本发明提出一种用于制造多个光电子半导体芯片的方法,所述方法包括至少下述方法步骤:提供至少一个半导体本体(1);借助于至少一个结构化工艺(3)将至少一条沟道(2)引入到所述半导体本体(1)中,其中,沟道(2)在竖直的方向(V)上贯通所述有源区(12);将至少一个清洁工艺(4)至少应用到所述半导体本体(1)在所述沟道(2)的区域中的空出的部位上,其中,清洁工艺(4)包括至少一个等离子清洁工艺(33),以及等离子清洁工艺(44)至少减小半导体本体(1)在至少沟道(2)的区域中的空出的部位上的结构化残留物的数量和/或空间延展范围;将至少一个钝化层(5)至少施加到半导体本体(1)在沟道(2)的区域中的空出的部位上。
申请公布号 CN103608936A 申请公布日期 2014.02.26
申请号 CN201280029569.X 申请日期 2012.06.01
申请人 欧司朗光电半导体有限公司 发明人 马丁·罗伊费尔;马库斯·毛特;托尼·阿尔布雷希特
分类号 H01L33/00(2006.01)I;H01L33/44(2006.01)I;H01L33/32(2006.01)I;H01L33/22(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 丁永凡;田军锋
主权项 一种用于制造多个光电子半导体芯片(100)的方法,所述方法包括至少下述方法步骤:‑提供至少一个半导体本体(1),所述半导体本体具有表面(11)以及至少一个适合于产生辐射的有源区(12);‑借助于至少一个结构化工艺(3)经由所述半导体本体(1)的所述表面(11)将至少一条沟道(2)引入到所述半导体本体(1)中,其中‑在所述沟道(2)的区域中去除所述半导体本体(1)的一部分,以及‑使所述沟道(2)在竖直的方向(V)上贯通所述有源区(12);‑将至少一个清洁工艺(4)至少应用到所述半导体本体(1)在所述沟道(2)的区域中的空出的部位上,其中‑所述清洁工艺(4)包括至少一个等离子清洁工艺(33),以及‑所述等离子清洁工艺(44)至少减小所述半导体本体(1)至少在所述沟道(2)的区域中的空出的部位上的结构化残留物(333)的数量和/或该结构化残留物(333)的空间延展范围;‑将至少一个钝化层(5)至少施加到所述半导体本体(1)在所述沟道(2)的区域中的空出的部位上。
地址 德国雷根斯堡