发明名称 | 检测存储器中连接缺陷的方法与可检测连接缺陷的存储器 | ||
摘要 | 通过输入电压至存储器内包括的广域字线,并检测广域字线上对应产生的电流,可产生电流与电压的关系函数,并且可根据关系函数的偏离幅度或斜率判断广域字线是否具有连接缺陷。 | ||
申请公布号 | CN102354534B | 申请公布日期 | 2014.02.26 |
申请号 | CN201110259755.X | 申请日期 | 2011.08.31 |
申请人 | 钰创科技股份有限公司 | 发明人 | 张敏芝;王释兴;余德益;杨连圣 |
分类号 | G11C29/12(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/12(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 梁挥 |
主权项 | 一种检测存储器中连接缺陷的方法,该存储器包括多条第一广域字线及多条第二广域字线,该方法包括: 于一第一时间点,对每一该多条第一广域字线提供多个相异的第一电压,其中每一该第一电压是同时提供给该多条第一广域字线; 于该第一时间点,对该多条第二广域字线提供一第二电压; 当该多条第一广域字线被提供该多个第一电压时,测量每一该多条第一广域字线的多个第一电流;及 根据该多个第一电流与该多个第一电压的关系,判断该多条第一广域字线是否具有连接缺陷;其中根据该多个第一电流与该多个第一电压的关系,判断该多条第一广域字线是否具有连接缺陷的方法,包括下列的任一者: 根据该多个第一电流与该多个第一电压所形成的关系函数线的斜率是否大于一预定值,判断该多条第一广域字线是否具有连接缺陷; 根据该多个第一电流与该多个第一电压所形成的关系函数线的偏离幅度是否超过一预定范围,判断该多条第一广域字线是否具有连接缺陷;以及 根据该多个第一电流与该多个第一电压所形成的关系函数线的初始值是否偏离超过一预定值,判断该多条第一广域字线是否具有连接缺陷。 | ||
地址 | 中国台湾新竹县 |