发明名称 | 测量系统 | ||
摘要 | 一种用于投射曝光设备(1)的物镜(27),包含布置在物镜框架(28)上的度量台(30)。 | ||
申请公布号 | CN103608729A | 申请公布日期 | 2014.02.26 |
申请号 | CN201280028001.6 | 申请日期 | 2012.06.06 |
申请人 | 卡尔蔡司SMT有限责任公司 | 发明人 | M.戈珀特;H.海德纳;R.弗赖曼;C.斯特雷贝尔 |
分类号 | G03F7/20(2006.01)I | 主分类号 | G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 邱军 |
主权项 | 一种用于表征投射曝光设备(1)的至少一个部件的测量系统(37),包含:a.至少一个测量装置(16),用于测量光学参数,以及b.定位装置(30),用于定位所述至少一个测量装置(16),c.其中,所述定位装置(30)以可移动的方式连接至所述投射曝光设备(1)的物镜(27)。 | ||
地址 | 德国上科亨 |