发明名称 基于双圆域的触摸屏采样优化方法
摘要 本发明公开一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法,应用于触摸屏的采样驱动模块中,其包括以下步骤:步骤1:首先根据硬件差异选择双圆的半径,包括内圆半径确认和外圆半径;步骤2:通过步骤1得到的双圆将触摸屏的采样平面划分为多个区域,对不同区域内的采样点进行分类处理。本发明将平面域优化引入了触摸屏采样优化当中,使用双圆域对平面域进行分割,从而对实现了对采样数据的分类处理;使用正态分布确定圆域半径,使圆域半径确认更加合理,有效的区分了静态点击和拖拽动作。
申请公布号 CN103605441A 申请公布日期 2014.02.26
申请号 CN201310610385.9 申请日期 2013.11.26
申请人 厦门雅迅网络股份有限公司 发明人 范少卓;李培明;吕瑞明;李琦;杨磊;柳素华
分类号 G06F3/041(2006.01)I 主分类号 G06F3/041(2006.01)I
代理机构 泉州市诚得知识产权代理事务所(普通合伙) 35209 代理人 李伊飏
主权项 一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法,应用于触摸屏的采样驱动模块的驱动程序中,其包括以下步骤:步骤1:需要首先根据硬件差异选择双圆的半径,包括内圆半径r1确认和外圆半径r2确认;步骤2:通过步骤1得到的双圆将将触摸屏的采样平面划分为多个区域,对多个区域内的采样点进行分类处理,其处理过程包括:步骤2A:利用每次采样开始的n次数据确认触摸屏使用过程的初始圆心o(xo,yo);步骤2B:令后续采样数据坐标为B(xb,yb),计算其和初始化圆心o(xo,yo)的距离dob;步骤2C:根据dob和r1,r2的大小比较结果对B(xb,yb)采样值进行处理:若dob>r2,则判断B(xb,yb)为“飞点”,舍弃掉采样值;若r1<=dob<=r2,则判断B(xb,yb)点为正常拖动产生的点,则上报B(xb,yb)坐标,并选取B(xb,yb)点为新圆心;若dob<=r1,则判断B(xb,yb)为固定点,上报o(xo,yo)点坐标,并仍选取o(xo,yo)为圆心;步骤2D:以新圆心为基准,重复步骤2B和步骤2C,直至一次触摸屏点击过程结束。
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