发明名称 一种循环流化床固体通量测量方法及测量系统
摘要 本发明提供一种循环流化床固体通量测量方法,包括下列步骤:1)在循环流化床反应器的下降段选取两个横截面作为测量面;2)对于每个测量面,利用扇束射线在一段时间内连续测量该测量面的固体截面平均体积分率;所述扇束射线是能够穿透反应器内固体物料的扇束形状的射线;3)计算两个测量面的固体截面平均体积分率的时间函数的互相关函数R(τ),找出使该互相关函数取值最大的时间τ并将该时间τ作为固体物料从上测量面运动至下测量面所花的时间,进而计算出所述循环流化床的固体通量。本发明不会干扰反应器内的流场,不会造成人为的间隙操作。本发明测量结果的真实可靠。本发明能够在高温高压甚至有毒的极端测量环境中应用。
申请公布号 CN102519528B 申请公布日期 2014.02.26
申请号 CN201110449257.1 申请日期 2011.12.29
申请人 中国科学院过程工程研究所 发明人 孟凡勇;王维;李静海
分类号 G01F1/76(2006.01)I 主分类号 G01F1/76(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇
主权项 1.一种循环流化床固体通量测量方法,包括下列步骤: 1)在循环流化床反应器的下降段选取两个横截面作为测量面; 2)对于每个测量面,利用扇束射线在一段时间内连续测量该测量面的固体截面平均体积分率;所述扇束射线是能够穿透反应器内固体物料的扇束形状的射线; 3)计算两个测量面的固体截面平均体积分率的时间函数的互相关函数R(τ),找出使该互相关函数取值最大的时间滞后量τ,进而计算出所述循环流化床的固体通量; 所述步骤2)包括下列子步骤: 21)反应器内无物料状态下,对本底射线衰减信号进行测量,得到间距为d的两个测量截面的反应器本底射线衰减信号 I<sub>o1</sub>(i)和I<sub>o2</sub>(i),I<sub>o1</sub>(i)和I<sub>o2</sub>(i)分别代表上测量面和下测量面所对应的探测器的第i个像素点测量到的射线强度; 22)反应器测量段内固体物料紧密堆积状态下,对两个测量面的射线衰减信号I<sub>f1</sub>(i)和I<sub>f2</sub>(i)进行测量,I<sub>f1</sub>(i)和I<sub>f2</sub>(i)分别代表上测量面和下测量面所对应的探测器的第i个像素点测量到的射线强度; 23)反应器正常运行状态下,对两个测量面的射线衰减信号I<sub>t1</sub>(i)和I<sub>t2</sub>(i)进行测量,I<sub>t1</sub>(i)和I<sub>t2</sub>(i)代表上测量面和下测量面所对应的探测器的第i个像素点测量到的射线强度; 24)根据公式ε<sub>s</sub>(i)=ε<sub>sf</sub>·(ln(I<sub>t</sub>(i)/I<sub>o</sub>(i))/ln(I<sub>f</sub>(i)/I<sub>o</sub>(i))) ,计算探测器第i个像素点对应的射线穿透路径上的固体体积平均分率,其中ε<sub>sf</sub>为固体物料紧密堆积状态下的固体体积分率; 25)根据公式<img file="FDA00003495420700011.GIF" wi="600" he="82" />分别计算出上测量面和下测量面的截面平均固体体积分率<img file="FDA00003495420700012.GIF" wi="76" he="67" />和<img file="FDA00003495420700013.GIF" wi="100" he="77" />其中l(i)为第i个像素点对应的射线穿过反应器内的距离,<img file="FDA00003495420700014.GIF" wi="353" he="91" />n为测量面所对应的探测器的像素数目。
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