寿命测试系统

摘要

一种寿命测试系统包括第一、第二探测装置、处理器、运动模块及记忆模块。两探测装置、运动模块及记忆模块均与处理器相连，该运动模块上设置有第一、第二感应物，该处理器用于控制运动模块之运动及计算两探测装置分别感应到两感应物之次数，该记忆模块用于存储两探测装置分别感应到两感应物之次数，当该第一探测装置感应到该第一感应物之次数不等于该第二探测装置感应到该第二感应物之次数时，该第一探测装置不合格。