| 摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) zum Herstellen von mehreren Probenschnitten (24), insbesondere mikroskopischen Dünnschnitten, aus einer Probe (2), wobei die Vorrichtung (1) mehrere Schneideinrichtungen (12) aufweist und dafür eingerichtet ist, mittels der mehreren Schneideeinrichtungen (12) die Probenschnitte (24) aus der Probe (2) durch einen einzigen Schnittvorgang in Form eines Schnittstapels zu erzeugen. Ein Probenbearbeitungsgerät mit einer derartigen Vorrichtung (1) sowie ein Verfahren zur Rekonstruktion dreidimensionaler Probeninformationen aus entsprechenden Probenschnitten sind ebenfalls Gegenstand der Erfindung. |
