发明名称 Halbleiter-Bauelement und Verfahren zum Herstellen eines Halbleiter-Bauelements
摘要 Halbleiter-Bauelement, aufweisend: einen Halbleiterchip (22), der eine aktive Oberfläche (24) gegenüber einer hinteren Oberfläche (26) umfasst; Kapselungsmittelteilchen (36, 108), die durch einen Sinterungsprozess direkt auf dem Halbleiterchip (22) zu einem Kapselungsmittel (56, 76, 118) verfestigt sind, das Seiten des Halbleiterchips (22) kapselt; eine erste Metallschicht (84), die an einem ersten Kontakt auf der aktiven Oberfläche (24) des Halbleiterchips (22) angebracht ist; eine separate zweite Metallschicht (66), die an der hinteren Oberfläche (26) des Halbleiterchips (22) angebracht ist; und elektrisch leitendes Material (82), das sich zwischen der ersten Metallschicht (84) und der hinteren Oberfläche (26) erstreckt.
申请公布号 DE102009044863(B4) 申请公布日期 2014.02.20
申请号 DE20091044863 申请日期 2009.12.10
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 MAHLER, JOACHIM;FUERGUT, EDWARD;MENGEL, MANFRED;NIKITIN, IVAN
分类号 H01L23/29;H01L21/56;H01L21/98;H01L23/48 主分类号 H01L23/29
代理机构 代理人
主权项
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