| 发明名称 | 使用磁性二氧化硅颗粒的测定方法和该测定方法用试剂 | ||
| 摘要 | 本发明的测定对象物质测定方法的特征在于，使用磁性二氧化硅颗粒来测定试样中的测定对象物质，在所述磁性二氧化硅颗粒中，在含有60重量%～95重量%的平均粒径为1nm～15nm的超顺磁性金属氧化物的二氧化硅颗粒的表面，固定化有测定对象物质、测定对象物质的类似物质或者与测定对象物质特异性结合的物质。 | ||
| 申请公布号 | CN103597353A | 申请公布日期 | 2014.02.19 |
| 申请号 | CN201280028852.0 | 申请日期 | 2012.05.31 |
| 申请人 | 三洋化成工业株式会社;和光纯药工业株式会社 | 发明人 | 水野雄介;宫森将光;松田真次郎;橹曜 |
| 分类号 | G01N33/553(2006.01)I;C01B33/12(2006.01)I;G01N33/543(2006.01)I | 主分类号 | G01N33/553(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 丁香兰;庞东成 |
| 主权项 | 一种测定对象物质测定方法，其特征在于，使用磁性二氧化硅颗粒来测定试样中的测定对象物质，在所述磁性二氧化硅颗粒中，在含有60重量%～95重量%的平均粒径为1nm～15nm的超顺磁性金属氧化物的二氧化硅颗粒的表面，固定化有测定对象物质、测定对象物质的类似物质或者与测定对象物质特异性结合的物质。 | ||
| 地址 | 日本京都府京都市 | ||