存储器测试方法、存储器测试装置及其转接器

摘要

本发明提出一种存储器测试方法、存储器测试装置及其转接器，用以测试一待测电子装置上至少一存储器模块运作效能。存储器测试装置包括至少一转接器及控制单元。转接器包括插接部、插槽及开关电路。插接部是用以插接于待测电子装置的存储器模块插槽。插槽电连接于插接部，用以供存储器模块插接，并可于转接器插接于所述存储器模块插槽而电连接时输出一工作电压至存储器模块。开关电路电连接于插接部与插槽。控制单元电连接于各转接器的开关电路，经由控制开关电路对所插入的存储器模块进行开关动作。

主权项

一种存储器模块测试装置，其特征在于，用以测试一待测电子装置上至少一存储器模块运作效能，所述待测电子装置包括有一电路板，所述电路板上设置有至少一存储器模块插槽，各用以供所述存储器模块插接，包括有：至少一转接器，包括：一插接部，用以插接于所述存储器模块插槽；一插槽，电连接于所述插接部，所述插槽用以供所述存储器模块插接，并可于所述转接器插接于所述存储器模块插槽而电连接时输出一工作电压至所述存储器模块；及一开关电路，电连接于所述插接部与所述插槽；一控制单元，电连接于所述转接器的所述开关电路，所述控制单元经由控制所述开关电路对所插入的所述存储器模块进行开关动作。