首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 以干涉仪光谱仪测定基质上薄膜厚度之方法
摘要
申请公布号 TW008999 申请公布日期 1971.07.01
申请号 TW015648 申请日期 1969.12.10
申请人 川仪器公司 发明人 寇保凡
分类号 G01B 主分类号 G01B
代理机构 代理人 蔡中曾 台北巿敦化南路一段二四五号八楼
主权项
地址 BEDFORD,MASSACHUSETS,U.S.A.
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com