发明名称 |
一种快速评价草菇受低温伤害程度的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种快速评价草菇受低温伤害程度的方法,包括:(1)将活化后的草菇菌株接种到灭菌的PDA培养基上,静置培养3~4天;待菌丝长满平皿后,将其转接到PDY培养液中,然后振荡培养3~4天;(2)将PDY培养液中的菌丝球过滤,低温处理,在各个低温处理时间点分别取菌丝球20~25℃下振荡,测定初始电导率E1,再灭菌,振荡,测定终极电导率E2;根据计算结果即能评价出草菇受低温伤害的程度。本发明操作简便,易于掌握,整个系统的草菇受低温伤害程度鉴定都在可控条件下进行,使得测定数据更加可靠;此方法还可以用于不同草菇菌株间耐低温性的快速判断,能够大大缩短筛选耐低温突变株的育种周期。 |
申请公布号 |
CN103098649B |
申请公布日期 |
2014.02.19 |
申请号 |
CN201310039516.2 |
申请日期 |
2013.01.31 |
申请人 |
上海市农业科学院 |
发明人 |
赵妍;陈明杰;姜威;汪虹;张宝粉 |
分类号 |
A01G1/04(2006.01)I;G01N27/04(2006.01)I |
主分类号 |
A01G1/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海泰能知识产权代理事务所 31233 |
代理人 |
黄志达 |
主权项 |
一种快速评价草菇受低温伤害程度的方法,包括:(1)将活化后的草菇菌株接种到灭菌的PDA培养基上,于32~35℃、黑暗条件下静置培养3~4天;待菌丝长满平皿后,将其转接到PDY培养液中,然后在32~35℃、黑暗条件下振荡培养3~4天;其中振荡速度为120~150rpm;(2)将PDY培养液中的菌丝球过滤,并在0~4℃低温下处理0~8h,在各个低温处理时间点分别取菌丝球放入装有20~30ml双蒸水的离心管中,20~25℃下振荡,测定初始电导率E1,再在121℃下灭菌20min,20~25℃下振荡,测定终极电导率E2;相对电导率的计算公式E%=(E1‑E0)/(E2‑E0)×100%,式中E0为双蒸水电导率,根据计算结果即能评价出草菇受低温伤害的程度,其中振荡为振荡速度为120~150rpm,振荡时间为18~24h。 |
地址 |
201106 上海市闵行区北翟路2901号 |