发明名称 |
光学特性测量装置 |
摘要 |
本发明提供一种光学特性测量装置,包括内壁具有反射面的半球部以及平面部,该平面部被配置成堵塞半球部的开口,在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗,该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗,该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置,用于从半球部的内部取出光。 |
申请公布号 |
CN103575508A |
申请公布日期 |
2014.02.12 |
申请号 |
CN201310030361.6 |
申请日期 |
2013.01.25 |
申请人 |
大塚电子株式会社 |
发明人 |
大久保和明;白岩久志 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种光学特性测量装置,具备:半球部,其内壁具有反射面;以及平面部,其被配置成堵塞上述半球部的开口,在上述半球部的内壁侧具有反射面,其中,上述平面部包括第一窗,该第一窗用于在包含上述半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源,上述半球部和上述平面部中的至少一方包括多个第二窗,该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置,用于从上述半球部的内部取出光。 |
地址 |
日本大阪府 |