发明名称 |
场效应晶体管的栅电极 |
摘要 |
本发明涉及一种场效应晶体管的栅电极。场效应晶体管的示例性结构包括衬底;栅电极,位于具有第一顶面和侧壁的衬底的上方;源极/漏极(S/D)区,至少部分设置在栅电极一侧的衬底中;间隔件,位于分布在栅电极和S/D区之间的侧壁上;以及接触蚀刻停止层(CESL),紧邻间隔件且进一步包括在S/D区上方延伸的部分,其中,该部分的第二顶面与第一顶面基本共面。 |
申请公布号 |
CN103579340A |
申请公布日期 |
2014.02.12 |
申请号 |
CN201210468202.X |
申请日期 |
2012.11.19 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
陈能国;万幸仁;林奕安;张骏伟;孙诗平 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 |
代理人 |
章社杲;孙征 |
主权项 |
一种场效应晶体管,包括:衬底;栅电极,位于所述衬底上方并具有第一顶面和侧壁;源极/漏极(S/D)区,至少部分设置在所述栅电极一侧的所述衬底中;间隔件,位于分布在所述栅电极和所述S/D区之间的所述侧壁上;以及接触蚀刻停止层(CESL),紧邻所述间隔件且进一步包括在所述S/D区的上方延伸的一部分,其中,所述一部分的第二顶面与所述第一顶面基本共面。 |
地址 |
中国台湾新竹 |