发明名称 |
沟槽型栅极及制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种沟槽型栅极,其是在传统的屏蔽栅处通过离子注入形成一个PN结,以获得更低的栅极电容,实现器件开关速度的提高和损耗的降低。本发明还公开了所述沟槽型栅极的制造方法。 |
申请公布号 |
CN103579320A |
申请公布日期 |
2014.02.12 |
申请号 |
CN201210271234.0 |
申请日期 |
2012.07.31 |
申请人 |
上海华虹NEC电子有限公司 |
发明人 |
柯行飞;李江华;张朝阳 |
分类号 |
H01L29/49(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/49(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
丁纪铁 |
主权项 |
一种沟槽型栅极,沟槽内包含栅极导电多晶硅及屏蔽栅多晶硅,其特征在于:在沟槽内壁下部及底部具有第一栅氧化层,第一栅氧化层半包裹屏蔽栅多晶硅,屏蔽栅多晶硅分为两层,包含位于下部的P型多晶硅,以及位于P型多晶硅之上的N型多晶硅,两层多晶硅互相接触形成PN结;在N型多晶硅之上及沟槽内壁上部具有第二栅氧化层,第二栅氧化层半包裹N型栅极导电多晶硅,将N型栅极导电多晶硅和屏蔽栅多晶硅隔离。 |
地址 |
201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |