发明名称 |
物理气相沉积设备及物理气相沉积工艺 |
摘要 |
本发明公开了一种物理气相沉积装置,包括一反应腔室,所述反应腔室包括:位于所述反应腔室内以将所述反应腔室隔离成上部腔室和下部腔室的介质窗,所述介质窗具有透光性且密封所述下部腔室;位于所述下部腔室内的基片支撑部件;设在所述上部腔室的顶壁、用于加热所述待加工基片的加热部件;基片传输口,所述基片传输口位于所述下部腔室的侧壁上,用于将加工完的基片从所述下部腔室传出或将待加工的基片传入所述下部腔室;和加热约束桶,所述加热约束桶位于所述下部腔室内且能够通过升降机构在所述下部腔室内升降。本发明提供的物理气相沉积设备,可大大提高基片加热时的均匀性,提高基片的去气效果。本发明还公开了一种物理气相沉积工艺。 |
申请公布号 |
CN103572211A |
申请公布日期 |
2014.02.12 |
申请号 |
CN201210269186.1 |
申请日期 |
2012.07.31 |
申请人 |
北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
发明人 |
边国栋 |
分类号 |
C23C14/22(2006.01)I;C23C14/02(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
宋合成;黄德海 |
主权项 |
一种物理气相沉积装置,包括一反应腔室,其特征在于,所述反应腔室包括:介质窗,所述介质窗位于所述反应腔室内,将所述反应腔室隔离成上部腔室和下部腔室,所述介质窗具有透光性且密封所述下部腔室;基片支撑部件,所述基片支撑部件位于所述下部腔室内;加热部件,所述加热部件设在所述上部腔室的顶壁,用于加热所述待加工基片;基片传输口,所述基片传输口位于所述下部腔室的侧壁上,用于将加工完的基片从所述下部腔室传出或将待加工的基片传入所述下部腔室;和加热约束桶,所述加热约束桶位于所述下部腔室内且能够通过升降机构在所述下部腔室内升降。 |
地址 |
100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号 |