| 摘要 |
一种二维光学检测之平场校正方法，系在一电荷耦合装置(Charge Coupled Device；CCD)与至少一参考发光体之间设置一第一滤光片，使参考发光体相对CCD移动以利用CCD撷取复数个个别影像并整合一平场资讯，藉以运算出一第一光强度校正场型(Profile)以获得CCD之一影像座标系中各影像座标所对应之一第一光强度校正率，在CCD撷取至少一待测发光体之一偏离正投射检测影像后，藉由第一光强度校正率运算出该偏离正投射检测影像中各影像座标所对应之一校正后光强度值，藉以获得一光强度校正检测影像。 |
