发明名称 通过激光与等离子体蚀刻的基板切割所用的水溶性遮罩
摘要 本发明揭示切割具有数个IC的基板的方法。方法包括以下步骤:在半导体基板之上形成遮罩,遮罩包含水溶性材料层。利用飞秒(femtosecond)激光划线工艺来图案化遮罩,以提供具有间隙的图案化遮罩。图案化步骤曝露基板介于IC之间的区域。随后,经由图案化遮罩中的间隙蚀刻基板藉以单分(singulate)IC,并洗去水溶性材料层。
申请公布号 CN103563054A 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201280026607.6 申请日期 2012.05.25
申请人 应用材料公司 发明人 W-S·类;S·辛格;M·R·亚拉曼希里;B·伊顿;A·库玛
分类号 H01L21/301(2006.01)I 主分类号 H01L21/301(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆嘉
主权项 一种切割包含数个IC的基板的方法,所述方法包括以下步骤:在所述基板上形成遮罩,所述遮罩覆盖并保护所述IC,所述遮罩包含水溶性材料层,水溶性材料层接触所述IC的上表面;利用激光划线工艺藉以图案化所述遮罩,以提供具有间隙的图案化遮罩、暴露所述基板介于所述IC之间的区域;以及经由所述图案化遮罩中的所述间隙藉以等离子体蚀刻所述基板,以单分所述IC。
地址 美国加利福尼亚州