发明名称 | 一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法,包括以下步骤:(1)进行有机玻璃试件银纹最大深度测量试验的准备工作;(2)调整有机玻璃试件使其处于测定银纹深度的最佳位置;(3)利用工具显微镜测量有机玻璃试件银纹最大深度;(4)记录有机玻璃试件银纹最大深度的测量结果,以作为银纹对有机玻璃力学性能影响研究的基本数据。本发明基于银纹的光学特性,即银纹在光线照射下有银色光泽,而有机玻璃其他部分具有透光性,提出了一种利用工具显微镜进行有机玻璃银纹最大深度测量的方法,可以有效测量有机玻璃中银纹的最大深度,试验操作简便,易于实现,成本低廉,适用于工程应用中有机玻璃银纹最大深度的测量。 | ||
申请公布号 | CN103557806A | 申请公布日期 | 2014.02.05 |
申请号 | CN201310562602.1 | 申请日期 | 2013.11.13 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 时新红;张建宇;山美娟;辛安;赵丽滨 |
分类号 | G01B11/22(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/22(2006.01)I |
代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人 | 孟卜娟 |
主权项 | 一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法,其特征在于包括以下步骤:步骤A:进行有机玻璃试件银纹最大深度测量试验的准备工作;步骤B:调整有机玻璃试件使其处于测定银纹深度的最佳位置;步骤C:利用工具显微镜测量有机玻璃试件银纹最大深度;步骤D:记录有机玻璃试件银纹最大深度的测量结果,以作为银纹对有机玻璃力学性能影响研究的数据。 | ||
地址 | 100191 北京市海淀区学院路37号 |