发明名称 |
内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统 |
摘要 |
一种内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统,用于X射线源的多能段二维图像测量,包括顺序设置的前置滤片、KB显微镜、多层胶片和CCD;所述KB显微镜使用两组双周期多层膜叠加作为X射线反射材料;所述多层胶片为多层单面涂层的X射线胶片的叠加。本发明的高空间分辨多能段成像系统,具有结构简单,易于装调,使用方便的特点,避免了多通道测量带来的视角因子差别问题,能够实现多能段的图像测量,并能获得空间分辨优于3μm的二维图像。 |
申请公布号 |
CN103558238A |
申请公布日期 |
2014.02.05 |
申请号 |
CN201310557914.3 |
申请日期 |
2013.11.11 |
申请人 |
中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
发明人 |
丁永坤;曹柱荣;邓博;董建军;黎宇坤 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海科盛知识产权代理有限公司 31225 |
代理人 |
杨元焱 |
主权项 |
一种内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统,用于X射线源的多能段二维图像测量,其特征在于:包括顺序设置的前置滤片、KB显微镜、多层胶片和CCD;所述KB显微镜使用两组双周期多层膜叠加作为X射线反射材料;所述多层胶片为多层单面涂层的X射线胶片的叠加。 |
地址 |
621900 四川省绵阳市绵山路64号919信箱986分箱 |