发明名称 低翘曲度的半导体衬底及其制备方法
摘要 本发明提供一种低翘曲度的半导体衬底及其制备方法,所述方法包括如下步骤:提供第一衬底及第二衬底,所述第一衬底具有相对的第一表面和第二表面,所述第一表面上设置有第一绝缘层,所述第二表面上设置有第二绝缘层,所述第二衬底包括支撑层、支撑层表面的氧化层以及氧化层表面的器件层;以器件层及第一绝缘层为中间层,将第一衬底与第二衬底键合在一起;在所述第二绝缘层表面外延形成一保护层,所述第二绝缘层和保护层的作用在于调整所述半导体衬底的翘曲度。本发明的优点在于,在衬底背面的绝缘层表面设置保护层,所述保护层能够防止绝缘层被腐蚀,从而能有效地降低晶片的翘曲度,同时也可以根据绝缘层及保护层的厚度调整晶片的翘曲度。
申请公布号 CN103560136A 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201310591315.3 申请日期 2013.11.22
申请人 上海新傲科技股份有限公司 发明人 叶斐;马乾志;陈猛;陈国兴
分类号 H01L27/12(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L27/12(2006.01)I
代理机构 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人 孙佳胤;翟羽
主权项 一种低翘曲度的半导体衬底,包括:支撑衬底,所述支撑衬底具有相对的第一表面和第二表面;第一绝缘层,所述第一绝缘层设置于所述支撑衬底的第一表面;以及器件层,所述器件层设置于所述第一绝缘层表面;其特征在于,所述半导体衬底进一步包括第二绝缘层和保护层,所述第二绝缘层设置于所述支撑衬底的第二表面,所述保护层设置在所述第二绝缘层的表面,所述第二绝缘层和保护层的作用在于调整所述半导体衬底的翘曲度。
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