发明名称 |
一种源漏区超浅结的改进方法 |
摘要 |
本发明一种源漏区超浅结的改进方式解决了现有技术框架下,SD超浅结的形成由于没有注入垫层的存在,需要由多种工艺组合而成,例如使用PAI+High dose,Low energy注入,或者High dose,Low energy注入+Co implant,这些组合极大了增加了工艺的复杂性的问题。通过增加注入垫层,可以在基本不改变注入杂质分布的情况下,降低注入工艺在Si中的射程,从而可以得到比常规方法更浅的超前结。或者是在保持超浅结结深不便的情况下,增大注入的能量,从而在一定程度上缓解了工艺对于大剂量,低能量注入的需求。降低了SD注入的工艺难度。 |
申请公布号 |
CN102437120B |
申请公布日期 |
2014.02.05 |
申请号 |
CN201110235237.4 |
申请日期 |
2011.08.17 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
曹永峰 |
分类号 |
H01L21/8238(2006.01)I;H01L21/266(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/8238(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种源漏区超浅结的改进方法,在一硅基板上形成包括第一晶体管和第二晶体管的CMOS结构,其特征在于,包括以下步骤:步骤a:将覆盖在硅基板、第一晶体管栅极和第二晶体管栅极上的屏蔽层全部清除;步骤b:在硅基板上淀积一垫层,且使垫层同时将第一晶体管栅极和第二晶体管栅极覆盖;步骤c:在垫层上旋涂光刻胶,并光刻去除覆盖在第二晶体管上的光刻胶;步骤d:进行第一离子注入,形成第二晶体管的SD超浅结,之后去除光刻胶;步骤e:在垫层上再次旋涂光刻胶,并光刻去除覆盖在第一晶体管上的光刻胶;步骤f:进行第二离子注入,形成第一晶体管的SD超浅结,之后去除光刻胶;其中,步骤b中依次淀积一无定型碳层和一二氧化硅层共同形成垫层,无定形碳层与二氧化硅层覆盖在硅基板上,并同时将第一晶体管栅极和第二晶体管栅极覆盖。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |