发明名称 一种用于光纤拉锥的微力检测装置
摘要 一种用于光纤拉锥的微力检测装置,涉及一种微力检测装置。以解决现有的力传感器分辨率低等的问题。本发明的手动二维平台固定在二维平台连接板上,检测器固定座固定在手动二维平台上,检测器固定在检测器固定座上,激光调整支座固定在激光支座连接板上,激光器固定在激光调整支座上,反射镜设置在反射镜固定座的上部,悬臂梁固定片通过两个夹紧片固定在载荷支座的上部,悬臂梁的一端水平固定在悬臂梁固定片上,悬臂梁的另一端设有光纤,透镜支座连接板固定在一维手动平台上,透镜支座固定在透镜支座连接板上,透镜镶嵌在透镜支座上,激光器、悬臂梁、反射镜、透镜和检测器组成检测光路。本发明用于光纤拉锥的微力检测。
申请公布号 CN103557972A 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201310611098.X 申请日期 2013.11.26
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 荣伟彬;张伟;王乐锋;曹阳;郑晴
分类号 G01L1/24(2006.01)I 主分类号 G01L1/24(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 高媛
主权项 一种用于光纤拉锥的微力检测装置,包括工作台(1);其特征在于:所述微力检测装置还包括检测单元(2)、光源单元(3)、反射单元(4)、载荷施加单元(5)和聚焦单元(6),所述检测单元(2)包括二维平台连接板(2‑1)、手动二维平台(2‑2)、检测器固定座(2‑3)和检测器(2‑4),二维平台连接板(2‑1)竖直固定在工作台(1)上,手动二维平台(2‑2)固定在二维平台连接板(2‑1)上,检测器固定座(2‑3)固定在手动二维平台(2‑2)上,检测器(2‑4)固定在检测器固定座(2‑3)上,所述光源单元(3)包括激光支座连接板(3‑1)、激光调整支座(3‑2)和激光器(3‑3),激光支座连接板(3‑1)固定在工作台(1)上,激光调整支座(3‑2)固定在激光支座连接板(3‑1)上,激光器(3‑3)固定在激光调整支座(3‑2)的V型槽中,所述反射单元(4)包括反射镜(4‑1)和反射镜固定座(4‑2),反射镜固定座(4‑2)固定在工作台(1)上,反射镜(4‑1)固定在反射镜固定座(4‑2)的上部,所述载荷施加单元(5)包括载荷支座(5‑1)、两个夹紧片(5‑2)、悬臂梁固定片(5‑3)、悬臂梁(5‑4)和光纤(5‑5),载荷支座(5‑1)固定在工作台(1)上,悬臂梁固定片(5‑3)通过两个夹紧片(5‑2)固定在载荷支座(5‑1)的上部,悬臂梁(5‑4)的一端水平固定在悬臂梁固定片(5‑3)上,光纤(5‑5)垂直固定在悬臂梁(5‑4)上,所述聚焦单元(6)包括透镜支座(6‑1)、透镜(6‑2)、透镜支座连接板(6‑3)和一维手动平台(6‑4),一维手动平台(6‑4)固定在工作台(1)上,透镜支座连接板(6‑3)固定在一维手动平台(6‑4)上,透镜支座(6‑1)固定在透镜支座连接板(6‑3)上,透镜(6‑2)镶嵌在透镜支座(6‑1)上,激光器(3‑3)发出的激光照射到硅悬臂梁(5‑4)上,经过发射镜(4‑1)反射和透镜(6‑1)聚焦到检测器(2‑4)上,构成了检测光路。
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